UnivIS
Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg © Config eG 
FAU Logo
  Sammlung/Stundenplan    Modulbelegung Home  |  Rechtliches  |  Kontakt  |  Hilfe    
Suche:      Semester:   
 
 Darstellung
 
Druckansicht

 
 
Modulbeschreibung (PDF)

 
 
 Außerdem im UnivIS
 
Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen

Vorlesungsverzeichnis

 
 
Veranstaltungskalender

Stellenangebote

Möbel-/Rechnerbörse

 
 
Materialphysik (Bachelor of Science) >>

Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (PW)5 ECTS
(englische Bezeichnung: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)
(Prüfungsordnungsmodul: Physikalische Wahlfächer)

Modulverantwortliche/r: Sabine Maier
Lehrende: Sabine Maier


Startsemester: WS 2017/2018Dauer: 1 SemesterTurnus: unregelmäßig
Präsenzzeit: 60 Std.Eigenstudium: 90 Std.Sprache: Englisch

Lehrveranstaltungen:


Inhalt:

Contents:
1. Introduction in various scanning probe microscopy techniques:

  • Scanning tunneling microscopy (STM)

  • Atomic force microscopy (AFM)

  • Kelvin probe force microscopy (KPFM)

  • Conductive atomic force microscopy (cAFM)

  • Scanning Near-field microscopy (SNOM)

2. Introduction to Nanophyics based on scanning probe experiments:

  • Atomic manipulation

  • Nanoelectronics

  • Nanomagnetism and spin-mapping

  • Nanomechanics

  • Surface reactions

Lernziele und Kompetenzen:

Learning goals and competences:
Students

  • explain the relevant topics of the lecture

  • apply the methods to specific examples

Literatur:

Literature:
1. B. Voigtländer, Scanning Probe Micorsocpy, Springer 2015
2. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
3. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
More references will be provided in the class.


Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Materialphysik (Bachelor of Science)
    (Po-Vers. 2010 | NatFak | Materialphysik (Bachelor of Science) | Module des 3. bis 6. Fachsemesters | Physikalische Wahlfächer)
Dieses Modul ist daneben auch in den Studienfächern "642#65#H", "Materials Physics (Master of Science)", "Physics (Master of Science)", "Physik (1. Staatsprüfung für das Lehramt an Gymnasien)", "Physik (Bachelor of Science)" verwendbar. Details

Studien-/Prüfungsleistungen:

Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (Prüfungsnummer: 822950)

(englischer Titel: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)

Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet
Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
weitere Erläuterungen:
Masterstudierende mit Studienbeginn ab Sommersemester 2015 können Prüfungen in deutscher Sprache nur mit Genehmigung des Prüfungsausschussvorsitzenden ablegen.
Prüfungssprache: Englisch

Erstablegung: WS 2017/2018, 1. Wdh.: WS 2017/2018 (nur für Wiederholer)
1. Prüfer: Sabine Maier

UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof