Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (PW)5 ECTS
(englische Bezeichnung: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)
(Prüfungsordnungsmodul: Physics elective courses)

Lehrveranstaltungen:

• • Nanophysics using Scaning Probe Microscopy
    (Vorlesung, Sabine Maier, Mi, 12:00 - 14:00, SR 01.332)
  • Nanophysics using Scaning Probe Microscopy - Exercises
    (Vorlesung, Sabine Maier, Mi, 14:00 - 15:00, SR 01.332; ab 25.10.2017)

Inhalt:

Contents:
1. Introduction in various scanning probe microscopy techniques:

• Scanning tunneling microscopy (STM)

• Atomic force microscopy (AFM)

• Kelvin probe force microscopy (KPFM)

• Conductive atomic force microscopy (cAFM)

• Scanning Near-field microscopy (SNOM)
  

2. Introduction to Nanophyics based on scanning probe experiments:

• Atomic manipulation

• Nanoelectronics

• Nanomagnetism and spin-mapping

• Nanomechanics

• Surface reactions

Lernziele und Kompetenzen:

Learning goals and competences:
Students

• explain the relevant topics of the lecture

• apply the methods to specific examples

Literatur:

Literature:
1. B. Voigtländer, Scanning Probe Micorsocpy, Springer 2015
2. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
3. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
More references will be provided in the class.

Studien-/Prüfungsleistungen:

Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (Prüfungsnummer: 822950)

(englischer Titel: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)

Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

weitere Erläuterungen:
Masterstudierende mit Studienbeginn ab Sommersemester 2015 können Prüfungen in deutscher Sprache nur mit Genehmigung des Prüfungsausschussvorsitzenden ablegen.

Prüfungssprache: Englisch

Erstablegung: WS 2017/2018, 1. Wdh.: WS 2017/2018 (nur für Wiederholer)

1. Prüfer:

Sabine Maier