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Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) >>

Seminar zu Fragen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen (SemFESS)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Seminar on Selected Problems of the Design of Integrated Circuits)
(Prüfungsordnungsmodul: Wahlmodulbereich aus der FAU)

Modulverantwortliche/r: Sebastian M. Sattler
Lehrende: Sebastian M. Sattler


Startsemester: WS 2017/2018Dauer: 1 SemesterTurnus: halbjährlich (WS+SS)
Präsenzzeit: 15 Std.Eigenstudium: 60 Std.Sprache: Deutsch

Lehrveranstaltungen:


Die allgemeine Modulbeschreibung des Prüfungsordnungsmoduls Wahlmodulbereich aus der FAU finden Sie hier.

Inhalt:

Inhalt des Seminars sind wissenschaftlich und technologisch aktuelle Themen der Lehr- und Forschungsgebiete des LZS:

  • Alle Ebenen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen oder Systeme

  • Modellierung, Simulation und Test Sicherheitskritischer Schaltungen

  • Algorithmen, Methoden und Werkzeuge für den rechnergestützten Entwurf

  • Anwendungen von Sicherheitskritischen Schaltungen und Mikrosystemen

Organisatorisches:

Entwurf Integrierter Schaltungen I und/oder II


Weitere Informationen:

www: http://www.lzs.eei.uni-erlangen.de/seminare/semfess

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Masterprüfung | Wahlmodulbereich aus der FAU)

Studien-/Prüfungsleistungen:

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