Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III) (Prüfungsordnungsmodul)2.5 ECTS

Die Beschreibung eines Prüfungsordnungsmoduls enthält allgemeine Angaben zur Verwendbarkeit und zu den Rahmenbedingungen für Prüfungen, so wie sie in den Prüfungsordnungen festgelegt sind. Zusätzlich kann eine allgemeine Modulbeschreibung, die übergreifend für alle konkreten (UnivIS-)Module gilt, enthalten sein. Die konkreten Modulbeschreibungen mit Angaben zu den Lehrveranstaltungen und Prüfungsdetails sind unter den zugeordneten UnivIS-Modulen zu finden.

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

1. Berufspädagogik Technik (Bachelor of Science)
   (Po-Vers. 2011 | TechFak | Berufspädagogik Technik (Bachelor of Science) | Studienrichtung Elektrotechnik und Informationstechnik | Gesamtkonto | Wahlpflichtmodule Fachwissenschaft | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
2. Berufspädagogik Technik (Bachelor of Science)
   (Po-Vers. 2020w | TechFak | Berufspädagogik Technik (Bachelor of Science) | Gesamtkonto | Wahlpflichtmodule Fachwissenschaft | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
3. Berufspädagogik Technik (Master of Education)
   (Po-Vers. 2010 | TechFak | Berufspädagogik Technik (Master of Education) | Studienrichtung Elektro- und Informationstechnik (Masterprüfungen) | Wahlpflichtmodule Fachwissenschaft | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
4. Berufspädagogik Technik (Master of Education)
   (Po-Vers. 2018w | TechFak | Berufspädagogik Technik (Master of Education) | Gesamtkonto | Wahlpflichtmodule Fachwissenschaft | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
5. Berufspädagogik Technik (Master of Education)
   (Po-Vers. 2020w | TechFak | Berufspädagogik Technik (Master of Education) | Gesamtkonto | Wahlpflichtmodule Fachwissenschaft | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
6. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
   (Po-Vers. 2009 | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science) | Studienrichtungen | Studienrichtung Mikroelektronik | Vertiefungsmodule (Wahlpflichtmodule) Mikroelektronik | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
7. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
   (Po-Vers. 2017w | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science) | Studienrichtung Mikroelektronik | Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
8. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
   (Po-Vers. 2019w | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science) | Gesamtkonto | Studienrichtung Mikroelektronik | Kern- und Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
9. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
   (Po-Vers. 2010 | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Studienrichtung Mikroelektronik | Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))
10. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Gesamtkonto | Studienrichtung Mikroelektronik | Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III))

Studien-/Prüfungsleistungen:

Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III) (Prüfungsnummer: 25151)

Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 2.5 Leistungspunkte

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

UnivIS-Module:

Diesem Prüfungsordnungsmodul wurden noch keine UnivIS-Module zugeordnet.