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Einrichtungen >> Technische Fakultät (TF) >> Department Elektrotechnik-Elektronik-Informationstechnik (EEI) >>

Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

 

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten

AWA; 4 SWS; n.V.
  Frey, L.  
 

Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie

SEM; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Einzeltermin am 28.1.2015, 9:30 - 12:00, 0.111; Vorbesprechung: 7.10.2014, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111
WPF ME-DH-SEM ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Scharin, M.  
 

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Di, 8:15 - 9:45, 0.111
  Jank, M.  
 

Exkursion "Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente"

EX; 1 SWS; Schein; Zeit und Raum n.V.
  Polster, S.  
 

Forschungspraktikum am LEB

SL; Schein; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
  Dirnecker, T.  
 

Halbleiterbauelemente

VORL; 2 SWS; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Fr, 12:15 - 13:45, H9
PF EEI-BA 3
PF EEI-BA-S 2
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
Frey, L.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; 2 SWS; Mo, 10:15 - 11:45, H9
PF EEI-BA 3
PF EEI-BA-S 2
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
Albrecht, M.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; 2 SWS; Di, 14:15 - 15:45, H8
PF EEI-BA 3
PF EEI-BA-S 2
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
Albrecht, M.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

SEM; ben. Schein; ECTS: 2,5; Fr, 12:15 - 15:00, 0.111; Einzeltermine am 16.1.2015, 9:00 - 11:15, 0.111; 23.1.2015, 9:00 - 10:00, 0.111; ab 24.10.2014; Bitte beachten Sie den Termin zur Vorbesprechung am 07.10.; Vorbesprechung: 7.10.2014, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111
  Dirnecker, T.
u.a.
 
 

Kolloquium zur Halbleitertechnologie und Messtechnik

KO; 1 SWS; Mo, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
  Bauer, A.  
 

Leistungselektronik im Fahrzeug und Antriebsstrang [LE KFZ]

V/UE; 4 SWS; ECTS: 5; Mo, 8:30 - 10:00, 14:00 - 15:30, Hans-Georg-Waeber-Saal; Vorlesung: Mo., 8:30-10:00 Uhr; Übung: Mo., 14:00 -15:30 Uhr; Vorbesprechung: 6.10.2014, 9:00 - 10:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG3 3-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
März, M.  
 

Leistungshalbleiterbauelemente

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 5; Di, 16:15 - 17:45, 0.111
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

UE; 2 SWS; ben. Schein; Fr, 16:15 - 17:45, 0.111
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
Hürner, A.  
 

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

VORL; 2 SWS; Mi, 10:00 - 11:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-MA ab 1
WF ME-DH ab 7
WF AOT-GL ab 1
Erdmann, A.  
 

Übung zu Optical Lithography

UE; 2 SWS; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Mi, 12:00 - 14:00, AOT-Bibliothek; On 29th Oct, 19th Nov and 10th Dec the course starts only at 13.00.
WF AOT-GL ab 1 Erdmann, A.  
 

Praktikum Automobilelektronik [Prak AutoEl]

PR; Schein; ECTS: 2,5; Vorbesprechung: 23.2.2015, 8:30 - 9:30 Uhr, 0.111
  Dirnecker, T.
u.a.
 
     Blockveranstaltung 23.2.2015-27.2.2015 Mo-Fr0:00 - 24:00EL 4.11/12  Gardill, M.
u.a.
 
 Weitere Informationen zu Ort und Raum werden über StudOn bekannt gegeben.
 

Praktikum Halbleiter- und Bauelementemesstechnik

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum findet ggf. als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Termin nach Vereinbarung. Anmeldung über StudOn; Vorbesprechung: 9.10.2014, 16:15 - 16:45 Uhr, BR 1.161
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-DH-PEEI 5-10
Krach, F.  
 

Praktikum Mikroelektronik [PrakMikro]

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar!!; Vorbesprechung: 10.10.2014, 10:15 - 11:15 Uhr, BR 1.161
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Krach, F.  
     n.V.    Frickel, J.
Glein, R.
 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     n.V.    Krach, F. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     Einzeltermine am 5.11.2014, 19.11.2014, 3.12.201416:00 - 20:00EL 4.13  Schröter, S. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
 

Praktikum Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Vorlesung Technologie integrierter Schaltungen vorausgesetzt; Mi, 8:30 - 12:30, Raum n.V.; Mi, 8:30 - 10:00, 0.111; bis zum 3.12.2014; !Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2014/15 nicht angeboten!
WPF ME-DH-PEEI 5-10
WPF EEI-BA-MIK ab 5
WPF EEI-MA-MIK ab 1
WPF EEI-MA-LE ab 1
WPF EEI-BA-LE ab 5
WPF ME-MA-P 1-3
Dirnecker, T.
Assistenten
 
 

Reinraumpraktikum [RRPrak]

PR; 6 SWS; ECTS: 5; Teilnahme an Vorbereitungstreffen verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten (08:00-12:00 oder 13:00-17:00) werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.
PF NT-BA 5 Scharin, M.  
     n.V.    Scharin, M. 
     Do8:00 - 9:00, 13:00 - 14:000.111  Polster, S. 
     Do8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00BR 1.161  Scharin, M. 
     Do9:00 - 13:00, 14:00 - 18:00BR 1.161  Polster, S.
Scharin, M.
 
 Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.
 

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

SEM; 2 SWS; ECTS: 2,5; Zeit und Raum n.V.
  Dirnecker, T.  
 

Seminar über Masterarbeiten (Sem MA)

SEM; 2 SWS; Fr, 10:00 - 12:15, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
  Albrecht, M.  
 

Technik der Halbleiterfertigungsgeräte

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Einzeltermine am 23.1.2015, 9:00 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; 24.1.2015, 9:00 - 14:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; 27.2.2015, 9:00 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; 28.2.2015, 9:00 - 14:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; ab 22.10.2014; Vorbesprechung im Seminarsaal 2 (neben Hans-Georg-Waeber-Saal), IISB, Schottkystr. 10; 1. Stock; Zeit und Ort der Vorlesung: wird in der Vorbesprechung am 22.10. festgelegt.; Vorbesprechung: 22.10.2014, 15:15 - 16:00 Uhr
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WPF ME-BA-MG10 3-6
WPF ME-MA-MG10 1-3
WF WW-DH-EL 7-13
Pfitzner, L.
Schmutz, W.
 
 

Technologie integrierter Schaltungen

VORL; 3 SWS; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Di, 14:15 - 16:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
Frey, L.  
 

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; Veranstaltung nach Absprache evtl. 14-tägig; Mo, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, 0.111; ab 13.10.2014; Die Übung findet 14-tägig als 2-stündige Veranstaltung statt. Der Beginn der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben,
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
Polster, S.  
 

Technologie medizinischer Mikrosysteme

VORL; 2 SWS; ECTS: 2,5; Fr, 8:15 - 9:45, 0.111, (außer Fr 7.11.2014, Fr 14.11.2014, Fr 21.11.2014, Fr 28.11.2014, Fr 5.12.2014, Fr 12.12.2014, Fr 19.12.2014, Fr 9.1.2015, Fr 16.1.2015, Fr 23.1.2015, Fr 30.1.2015); Di, 8:30 - 10:00, BR 1.161
WPF MT-MA-MEL ab 2 Dirnecker, T.  
 

Virtuelle Vorlesung Halbleiterbauelemente (vhb)

VORL; 4 SWS; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.
u.a.
 
 

Virtuelle Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen (vhb)

VORL; 4 SWS; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.  
 

Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 4; Mi, 14:15 - 15:45, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  
 

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; ben. Schein; Mi, 16:00 - 16:45, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  


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