|
|
Materials Physics (Master of Science) >>
|
Scanning Probe Microscopy- Dozent/in
- Prof. Dr. Sabine Maier
- Angaben
- Vorlesung
, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5, Sprache Deutsch oder Englisch
Zeit und Ort: Mi 12:00 - 14:00, SR 00.103; Mi, Raum n.V.; Bemerkung zu Zeit und Ort: verschiebbar
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF Ph-BA ab 5
WF Ph-MA ab 1
WF PhM-BA ab 5
WF PhM-MA ab 1
- Inhalt
- Introduction in scanning probe microscopy techniques
Scanning tunneling microscopy (STM) Atomic force microscopy (AFM) Kelvin probe force microscopy (KPFM) Conductive atomic force microscopy (cAFM) Scanning Near-field microscopy (SNOM)
Applications
- Empfohlene Literatur
- General literature on scanning probe microscopy:
1. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
2. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
More references will be provided in the class.
- ECTS-Informationen:
- Credits: 5
- Zusätzliche Informationen
- Zugeordnete Lehrveranstaltungen
- UE: Scanning Probe Microscopy (excercise class)
-
Dozent/in: Prof. Dr. Sabine Maier
Zeit und Ort: Mi 14:00 - 15:00, SR 01.332; Bemerkung zu Zeit und Ort: verschiebbar
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester SS 2015:
- Physikalisches Wahlfach: Scanning Probe Microscopy (PW)
- Institution: Juniorprofessur für Experimentalphysik (Rastersondenmikroskopie) (Prof. Dr. Maier)
|
 |
|
|
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
|
|