• Unterlagen zur Lehrveranstaltung werden auf der Lernplattform StudOn (www.studon.uni-erlangen.de) bereitgestellt. Das Passwort wird in der ersten Vorlesung bekannt gegeben.

• Für Bachelor- und Masterstudiengänge wird die Lehrveranstaltung unter dem Namen Modellgestützte Prüftechnik zur Produktverifikation (MPP) angeboten.
  

Vorkenntnisse:

• Kenntnisse der Vorlesung Grundlagen der Messtechnik
  

Prüfung:

• Studiengänge Maschinenbau und Mechatronik: als Pflicht- oder Vertiefungsfach: schriftlich 60 Min in Kombination mit einem weiteren Prüfungsmodul (schriftlich 60 Min) aus dem Vorlesungsangebot (QM I, QM II, MT I) des Lehrstuhls QFM

• Studiengang Werkstoffwissenschaften: Prüfung im Rahmen des Technischen Schwerpunktfaches Qualitätsmanagement und Messtechnik: mündlich 30 Min

• als Wahlfach für alle Studiengänge: schriftlich 60 Min

• Weckenmann, A.; Gawande, B.: Koordinatenmesstechnik - Flexible Meßstrategien für Maß, Form und Lage. München : Carl Hanser Verlag, 1999.

• Gasvik, K. J.: Optical Metrology. 2nd edn. Chichester: Wiley, 1996

• Warnecke, H.-J.; Dutschke, W.: Fertigungsmeßtechnik - Handbuch für Industrie und Wissenschaft. Berlin, Heidelberg: Springer, 1984

• Whitehouse, D. J.: Handbook of surface metrology. Bristol: Inst. of Physics Publ., 1994

Title:

Metrology II - Manufacturing Metrology

Prerequisites

Prerequisites:

• knowledge of the lecture Fundamentals of Metrology

Examination:

• Mechanical Engineering and Mechatronics: written exam 60 min

• Materials Science and Engineering: oral exam 30 min

• for all degree programmes as an elective course: written exam 60 min

Contents

Measurement parameters in metrology (length, dimension, angle, surface characteristics, form and position), influences on the measuring process, measurement deviations and measurement uncertainty. Measurement, inspection, gauging. Basic rules and principles of metrology: Taylor's principle, measurement loop, principle of comparators. Gauges, measurement devices and instruments (gauge blocks, limit gauges, inspection and form gauges, ring gauges, caliper gauges and micrometers), accessories, composite measuring instruments and automatic measuring equipment. Coordinate metrology (instrument details, guiding systems, scales, probing systems, measurement procedure and evaluation) and form inspection methods. Surface metrology (stylus methods, optical methods, filters, straightness, datums). Optical metrology (profile projection, laserscanning, triangulation, interferometry, Schmaltz light section method, holography, Speckle-technique). Quality control, inspection planning, inspection rooms and requirements for metrological laboratories.