Lehrveranstaltung

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Optical Manufacturing Metrology (OMM)

Dozent/in

Prof. Dr.-Ing. habil. Tino Hausotte

Angaben

Vorlesung mit Übung
, ECTS-Studium, Sprache Englisch
Zeit und Ort: Di 8:15 - 9:45, SR QFM; Einzeltermin am 19.6.2012 8:15 - 9:45, CCC 2.206
ab 24.4.2012

Studienfächer / Studienrichtungen

WPF IP-BA 5-6 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF AOT-GL ab 2 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF IP-BA-S 5-6 (ECTS-Credits: 2,5)

Voraussetzungen / Organisatorisches

Vortragssprache: Englisch
Unterlagen zur Lehrveranstaltung werden auf der Lernplattform StudOn (www.studon.uni-erlangen.de) bereitgestellt. Das Passwort wird in der ersten Vorlesung bekannt gegeben.

ECTS-Informationen:

Prerequisites: Language: English

Zusätzliche Informationen

Erwartete Teilnehmerzahl: 20
www: http://www.qfm.uni-erlangen.de/lehre/lehrveranstaltungen.php

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen

Startsemester SS 2012:: Optical Manufacturing Metrology (OMM)

Institution: Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik (FMT)



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