|
|
Vorlesungsverzeichnis >> Technische Fakultät (TF) >>
|
Hochfrequenzmesstechnik (HFM)- Dozentinnen/Dozenten
- Prof. i.R. Dr.-Ing. Siegfried Martius, Dipl.-Ing. Jan Schür, Akad. Rat
- Angaben
- Vorlesung mit Übung
4 SWS, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5
nur Fachstudium
Zeit und Ort: Mi 9:15 - 12:30, HF-Technik: BZ 6.18; Bemerkung zu Zeit und Ort: oder nach Vereinbarung am ersten Termin 20.10.2010
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF EEI-DH 5-14
WF EEI-BA 5-9
WF EEI-MA 1-14
- Inhalt
- Die Vorlesung beginnt mit der Vorstellung des internationalen
Einheitensystems (SI), dessen Bedeutung für den internationalen Warenverkehr
sowie der Darstellung der SI-Einheiten in den nationalen Standardbüros.
Die Besonderheiten der elektrischen Meßtechnik im Hochfrequenzbereich
(Laufzeiten, Verkopplung, Skineffekt) schließen sich an. Danach wird die
Erzeugung hochfrequenter Signale mit geeigneten Signalgeneratoren besprochen.
In sechs Hauptpunkten werden die Leistungsmessung, die n-Tor Beschreibung
mit der Streumatrix S und die Verfahren zur Messung der komplexen
Reflexions- und Transmissionsfaktoren, die Frequenzmessung (auch Spektrum),
die Rauschmessung und die Resonatormeßtechnik vorgestellt, analysiert
und mögliche Meßfehler aufgezeigt. Je nach Zweckmäßigkeit werden für
die Darstellung der Meßgröße sowohl Frequenz- als auch Zeitbereich
genutzt und gegenseitige Umrechnungen angegeben. Neben dem Ziel einer
effektiven Labormeßtechnik wird immer versucht, die Meßgrößen durch
Verfahren über die Basiseinheiten des SI-Systems zu bestimmen. Gleichfalls
wird gezeigt, wie durch Rechnersteuerung der Geräte, des Meßvorgangs und
der Auswertung auch anspruchsvolle Meßaufgaben mit geringem Meßfehler
lösbar sind.
- Empfohlene Literatur
- Schiek, B.: Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik, Springer-Verlag, Berlin, 1999
Thumm, M., Wiesbeck, W., Kern, S.: Hochfrequenzmeßtechnik. B.G. Teubner, Stuttgart, 1997
- ECTS-Informationen:
- Title:
- Microwave Measurements
- Credits: 5
- Prerequisites
- Electronic Components III
Microwave Engineering I and II
- Contents
- The course starts with the presentation of the international unit system SI, its
meaning for international trade and the representation of the SI-units at the
national institutes of standards. The special features of microwave
measurements (transit time, mutual coupling, skin-effect) will be presented.
Following, the generation principles of high frequency signals in relation to
frequency stability, variation band and power. Six main topics concentrate on
the measurement methods of RF-power, the n-port characterisation by means of
scattering matrix S, the measurements of reflection and transmission coefficients
(both magnitude and phase), measurements of frequency and spectrum, noise
measurements and the use of resonators as measuring tools. All methods will be
analysed and sources of measurement errors will be given. Depending on the
application signal representation is done in frequency or time domain. Besides
the goal of effective measurement methods for laboratory use in research and
production, it is still very important to represent a measured signal using the
basic SI-units. Additionally, the use of a computer to control several
measurement devices and their data streams allows processing the data using
mathematic and graphic tools in a comfortable way.
- Literature
- Schiek, B.: Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik, Springer-Verlag, Berlin,1999
Thumm, M., Wiesbeck, W., Kern, S.: Hochfrequenzmeßtechnik.
B.G. Teubner, Stuttgart, 1997
- Zusätzliche Informationen
- www: http://www.lhft.eei.uni-erlangen.de/de/lehre/aktuell/hfm_aushang_ws1011.pdf
- Institution: Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
|
 |
|
|
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
|
|