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Vorlesungsverzeichnis >> Technische Fakultät (TF) >>
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Seminar Messen, Charakterisieren und Prüfen in der Elektronikfertigung (SemMCP)- Dozentinnen/Dozenten
- Prof. Dr.-Ing. Klaus Helmreich, Dipl.-Ing. Gerald Gold
- Angaben
- Hauptseminar
, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 2,5, Sprache Deutsch, Anmeldung und Information: persönlich (Cauerstr. 6, Raum 0.147) oder per e-mail
Zeit und Ort: Mo 14:00 - 15:30, 0.111
Vorbesprechung: 7.4.2014, 14:00 - 15:30 Uhr, Raum 0.125
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-MA 1-4
- ECTS-Informationen:
- Credits: 2,5
- Zusätzliche Informationen
- Schlagwörter: Entwurf, Test, Charakterisierung, Messen, Leiterplatten, Schaltungen
Erwartete Teilnehmerzahl: 6, Maximale Teilnehmerzahl: 8
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester SS 2014:
- Seminar Messen, Charakterisieren und Prüfen in der Elektronikfertigung (SemMCP)
- Institution: Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
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