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Vorlesungsverzeichnis >> Technische Fakultät (TF) >>

  Industrielle Testanwendungen für Integrierte Schaltungen und Systeme (ITASS)

Dozent/in
Dr.-Ing. Heinz Mattes

Angaben
Vorlesung mit Übung
2 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 2,5
nur Fachstudium, Sprache Deutsch, entfällt dieses Semester
Zeit und Ort: Mi 12:30 - 14:00, SR 01.030; Bemerkung zu Zeit und Ort: bei Interesse bitte an sek@lzs.eei.uni-erlangen.de melden

Studienfächer / Studienrichtungen
WF EEI-DH-MIK ab 6
WF EEI-BA ab 6
WF IuK-DH ab 6
WF IuK-BA ab 4

Inhalt
Die Komplexität integrierter Schaltungen nimmt in Form von Systems-on-Chips (SoC) unaufhaltsam stetig zu. Bei wachsender Funktionalität und zunehmenden Ansprüchen an die Zuverlässigkeit der Bausteine ist ein deutlicher Preisverfall von Halbleiterprodukten zu beobachten. Für den Produktionstest hat dies besonders große Auswirkungen. Einerseits muss aufgrund der Qualitätsanforderungen die Prüfschärfe des Tests zunehmen, während andererseits aus wirtschaftlichen Gründen die Testkosten nicht ansteigen dürfen. Die Lehrveranstaltung geht ausführlich auf diese Problematik ein und zeigt Wege auf, wie mit modernen Testkonzepten diese Herausforderungen gemeistert werden können.

1) Produktionstest im industriellen Umfeld

  • Kostenaspekte

  • Produktionstest - Charakterisierung

  • Frontend-Test - Backend-Test

  • Einfluss der Montagetechnik auf den Produktionstest

2) Fallbeispiele an aktuellen Produkten

- Microcontroller für Automotive Anwendungen -

  • ADC-Test

  • Intelligente Loadboards

  • On Board Testsignalerzeugung

  • On Board Parameterextraktion

  • Zeitbereichsanalysen (on-the-fly)

  • Frequenzbereichsanalysen

- RF-Module für Mobilfunkanwendung -

  • FPGA-Lösungen zur Testunterstützung

  • Ressourcenschonende Algorithmen

  • Alternativen zur FFT

- Entry-Phone Anwendungen -

  • Aspekte des Hochvolumens

  • Systemarchitektur

  • Isolation Mode via Functional Mode

  • Loop-Back Test

- Feature-Phone Anwendungen -

  • Systemarchitektur

  • Soft-Test Konzepte

3) Built-In-Self-Test

  • Analyse von BIST Lösungen anhand von Veröffentlichungen in der aktuellen Fachliteratur

Im Rahmen der LV wird eine Exkursion zum Halbleiterhersteller Infineon in München angeboten.

ECTS-Informationen:
Credits: 2,5

Zusätzliche Informationen
Erwartete Teilnehmerzahl: 10

Institution: Lehrstuhl für Zuverlässige Schaltungen und Systeme
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