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  Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)

Dozentinnen/Dozenten
Hananeh Aliee, M. Sc., Faramarz Khosravi, M. Sc., Prof. Dr.-Ing. Michael Glaß

Angaben
Seminar
, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5,0, Sprache Englisch
Zeit und Ort: n.V.; Bemerkung zu Zeit und Ort: n.V.

Studienfächer / Studienrichtungen
WPF I2F-BA-S 5
WPF I2F-BA ab 4
WF IuK-MA ab 1
WF IuK-BA ab 4
WF IuK-BA-S 5
WPF CE-MA-SEM ab 1
WPF INF-MA ab 1

ECTS-Informationen:
Credits: 5,0

Zusätzliche Informationen
www: http://www12.informatik.uni-erlangen.de/edu/reliability_sem
Für diese Lehrveranstaltung ist eine Anmeldung erforderlich.
Die Anmeldung erfolgt von Montag, 10.3.2014, 0:00 Uhr bis Sonntag, 13.4.2014, 23:59 Uhr über: mein Campus.

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester SS 2014:
Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)

Institution: Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)
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