Die Vorlesung führt in die modernen Verfahren der Charakterisierung disperser Systeme ein. Behandelt werden allgemeine Prinzipien zur Beurteilung von Charakterisierungsmethoden und Messprozeduren. Darauf aufbauend werden die wichtigsten Messverfahren zur Charakterisierung von nano- und mikroskaligen Partikelsystemen (d.h. Partikelgröße, Oberfläche, Material, Ladung) behandelt. Ferner werden einige wichtige Methoden zur Charakterisierung von Produkteigenschaften disperser Systeme (z.B. Rheologie, Fließverhalten von Pulvern, Farbwirkung etc.) vorgestellt. Ein Teil der Verfahren wird von den Hörern anhand der vorgestellten Prinzipien selbständig erarbeitet und den anderen Teilnehmern präsentiert. Die Auswahl der detailliert behandelten Charakterisierungsmethoden kann den Interessen der Hörer flexibel angepasst werden.
Zeitplan:
20.10.2010 Vorbesprechung, Introduction
29.10.2010 Sampling and transport
03.11.2010 SMPS, Impactor
05.11.2010 REM, TEM
10.11.2010 AFM/STM
12.11.2010 Surface characterization, Zeta-potential
17.11.2010 Übung AFM/STM
19.11.2010 Image Analysis
24.11.2010 Übung REM
26.11.2010 Übung Optical Devices
01.12.2010 Structures, porosity, small angle scattering
03.12.2010 Nonlinear spectroscopy
08.12.2010 Single particle scattering, Rayleigh-Gans, Mie theory
10.12.2010 Laser diffraction
15.12.2010 Dynamic light scattering
12.01.2011 Optical materials
14.01.2011 Übung Optical Materials: Colorimetry, Mie Calculation
19.01.2011 Filled polymers
21.01.2011 Electronic materials, Impedance Spectroscopy 1
26.01.2011 Electronic materials, Impedance Spectroscopy 2
28.01.2011 Übung Electronics: Semiconductor Physics

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