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Vorlesungsverzeichnis >> Technische Fakultät (TF) >>

  Ausgewählte Kapitel der Elektronenmikroskopie I (Elektronenbeugung) (AusgKapitelEM_I)

Dozent/in
Dr.-Ing. Gerhard Frank

Angaben
Vorlesung mit Übung
2 SWS, Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 3, Sprache Deutsch oder Englisch, Wahlveranstaltung
Zeit und Ort: n.V.; Bemerkung zu Zeit und Ort: Beginn und Termine n.V./nach Aushang

Studienfächer / Studienrichtungen
WF MWT-MA-MIC 1
WF MWT-MA-EL 1

Voraussetzungen / Organisatorisches
  • Voraussetzung: abgeschlossenes Grundstudium.

  • Die Vorlesung schließt Übungen zur Vertiefung des Stoffes ein.

  • Mündliche Prüfung.

Inhalt
Der erste Abschnitt der Vorlesung umfaßt - in Verbindung mit Übungen zur Vertiefung des Stoffes - die Grundlagen und Anwendungen der Elektronenbeugung. Die folgenden Themen werden behandelt: grundlegende Aspekte der Elektronenbeugung; reziproke "Stäbe" (streaks und relrods); Praxis der Auswertung von Beugungsmustern; Ringmuster; Orientierungsanalyse; Mehrdeutigkeit der Indizierung; Kikuchi-Linien; Anwendung von konvergenter Elektronenbeugung, um zwei- und dreidimensionale Informationen zu gewinnen; "zusätzliche" Beugungspunkte auf Grund von Zweifachbeugung und Zwillingsgrenzen; Brechung von Elektronenwellen.
Der zweite Abschnitt der Vorlesung ist der stereographischen Projektion und ihrer Anwendung in der Durchstrahlungselektronenmikroskopie gewidmet.

Empfohlene Literatur
Literatur zu den einzelnen Themen wird in der Vorlesung angegeben.
Als Überblick:

  • D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Vol. 1: Basics, Vol. 2: Diffraction; Plenum Publishing Company, New York, 1996

ECTS-Informationen:
Title:
Selected Topics in Electron Microscopy I

Credits: 3

Prerequisites
  • Prerequisites: completed undergraduate studies.

  • The lectrue includes exercises to consolidate the matter.

  • Examination: oral.

Contents
The lecture, combined with exercises to consolidate the matter, deals in its first part with the basis and applications of electron diffraction. The following topics are covered: basic aspects of electron diffraction; streaks and relrods; practice of evaluation of diffraction patterns; ring patterns; orientational analysis; ambiguous indexing; Kikuchi lines; convergent beam electron diffraction to get two and three dimensional information; "additional" diffraction spots due to double diffraction and twinning; refraction of electron waves.
The second part of the lecture deals with the stereographic projection and its applications in transmission electron microscopy.

Literature
Specific literature is given during the lecture.
As an overview:

  • D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Vol. 1: Basics, Vol. 2 : Diffraction; Plenum Publishing Company, New York, 1996

Zusätzliche Informationen

Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Biomaterialien)
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