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Ausgewählte Kapitel der Elektronenmikroskopie II (EDS, EELS) (AusgKapitelEM_II)- Dozent/in
- Dr.-Ing. Gerhard Frank
- Angaben
- Vorlesung
1 SWS, Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 1,5
nur Fachstudium, Sprache Deutsch oder Englisch, BLOCK-Vorlesung
Ort: 1.225; Bemerkung zu Zeit und Ort: Beginn und Termine n.V./nach Aushang
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF WW-DH 7
WF WW-DH-EL 7
WF WW-MA-MIC 1
WF WW-MA-EL 1
- Voraussetzungen / Organisatorisches
-
- Inhalt
- Der Inhalt dieser Vorlesung umfaßt die Theorie und Praxis der
analytischen
Methoden, die in der Elektronenmikroskopie eingesetzt werden:
energie-dispersive Röntgen-Spektroskopie (energy dispersive
spectroscopy of x-rays, EDX) und
Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie (electron energy loss
spectroscopy, EELS).
Bei beiden Methoden werden folgende Themen behandelt:
Entstehung der jeweiligen Signale in einer von hochenergetischen
Elektronen getroffenen Probe;
Physik des Nachweises dieser Signale und die Komponenten
der Detektoren;
Interpretation und Quantifizierung der beobachteten Signale;
die gegenseitige Ergänzung und die jeweiligen Grenzen der Methoden;
mögliche Artefakte und deren physikalischer Hintergrund.
Ein weiterer Abschnitt der Vorlesung beschäftigt sich mit den in der
Elektronenmikroskopie verwendeten Aufzeichnungsmedien:
die jeweiligen Vor- und Nachteile von konventionellen Filmen,
Kameras auf Halbleiterbasis (CCD) und Bildträgern auf Basis von
Speicher-Leuchtstoffen werden besprochen.
Zu jedem der drei Abschnitte dieser Vorlesung wird zusätzlich ein
halber
Tag mit praktischen Übungen am analytischen
Durchstrahlungselektronenmikroskop des Verbundlabors Hochauflösende
Elektronenmikroskopie angeboten.
- Empfohlene Literatur
- Literatur zu den einzelnen Themen wird in der Vorlesung angegeben.
Als Überblick:
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Vol. 4: Spectrometry, Vol. 1: Basics; Plenum Publishing Company, New York, 1996 R.F. Egerton, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope; Plenum Publishing Company, New York, 1996, 2nd edition
- ECTS-Informationen:
- Credits: 1,5
- Prerequisites
-
- Contents
- This course covers theory and practice of analytical methods used
with electron microcopy: energy dispersive spectroscopy of x-rays
(EDX) and electron energy loss spectroscopy (EELS). For both
methods the following topics are covered: generation of the specific
signals in a specimen hit by high energy electrons; detection
physics and detector components; interpretation and quantification
of the detected signals; individual limitations and complementary
aspects; possible artifacts and their physical background.
Another chapter of the lecture concerns the recording media in
electron microscopy: the specific advantages and disadvantages
of conventional film, semiconductor based cameras (CCD) and image
plates are discussed.
For each of the three chapters of this lecture there is one
additional
half day dedicated to hands-on exercises with the analytical
transmission electron microscope in the Laboratory of High Resolution
Electron Microscopy.
- Literature
- Specific literature is given during the lecture.
As an overview:
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Vol. 4: Spectrometry, Vol. 1: Basics; Plenum Publishing Company, New York, 1996 R.F. Egerton, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope; Plenum Publishing Company, New York, 1996, 2nd edition
- Zusätzliche Informationen
- Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Biomaterialien)
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