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Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie (EinfREM)- Dozentinnen/Dozenten
- Dr. rer. nat. Benjamin Butz, Prof. Dr. rer. nat. Erdmann Spiecker
- Angaben
- Vorlesung
2 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 3, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Mo 10:15 - 11:45, 1.225
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF MWT-MA-EL ab 1 (ECTS-Credits: 3)
- Inhalt
- Die Vorlesung gibt eine Einführung in die Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie (REM) wie
auch modernster verwandter Methoden (FIB, He-Ionenmikroskopie). Sie hat zum Ziel, den
Teilnehmern die weitreichenden Möglichkeiten dieser Techniken zur Charakterisierung von
Oberfläche sowie der Struktur und Zusammensetzung von Materialen aufzuzeigen. Im Rahmen der
Vorlesung und den vertiefenden Übungen soll ein fundiertes Verständnis für die elastischen wie auch
inelastischen Wechselwirkungen der Elektronen (wie auch Ionen) mit Materie vermittelt werden.
Dieses bildet die Grundlage für die korrekte Interpretation der Kontrastphänomene wie auch
quantitativer analytischer Messungen (energiedispersive/wellenlängendispersive Röntgenanalytik,
EDXS/WDXS). Diese Grundlagen werden mit der Darstellung praktischer Aspekte wie der
Abhängigkeiten der Kontraste von den gewählten Mikroskopparametern und Detektoren
kombiniert, um den Teilnehmern die optimale Nutzung der REM für eigene Forschungsarbeiten zu
eröffnet.
- Empfohlene Literatur
- Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy, Springer Verlag, 1985
E. Fuchs, H. Oppolzer, H. Rehme, Particle Beam Microanalysis, VCH Verlagsgesellschaft, 1990 P.J. Goodhews, F.J. Humphreys, R. Beanland, Electron Microscopy and Analysis, 3rd edition, Taylor and Francis 2000 Joseph I. Goldstein, Harvey Yakowitz, Practical Scanning Electron Microscopy, Plenum Press 1975
- ECTS-Informationen:
- Credits: 3
- Zusätzliche Informationen
- Erwartete Teilnehmerzahl: 20
- Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Biomaterialien)
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