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Elektronenmikroskopie I (ElMik1)- Dozent/in
- Prof. Dr. rer. nat. Erdmann Spiecker
- Angaben
- Vorlesung
2 SWS, Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 3
nur Fachstudium, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Mo 08:15 - 09:45, 1.84
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF MWT-MA-AWE 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF MWT-MA-WTM 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF MWT-MA-LKO 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF MWT-MA-LSP 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF MWT-MA-WET 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF MWT-MA-WIM 1 (ECTS-Credits: 3)
PF NT-MA 1 (ECTS-Credits: 3)
- Voraussetzungen / Organisatorisches
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- Inhalt
- Die Vorlesung gibt eine Einführung in die Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie und hat zum Ziel, den Teilnehmern die weitreichenden Möglichkeiten der Mikroskopie mit schnellen Elektronen für die Strukturuntersuchung von Materialen aufzuzeigen. Im Rahmen der Vorlesung und den vertiefenden Übungen soll ein fundiertes Verständnis für die Wechselwirkung von schnellen Elektronen mit Materie und die daraus resultierenden Kontrastphänomene in elektronenmikroskopischen Abbildungen und Beugungsbildern erarbeitet werden, das Grundvoraussetzung für eine korrekte Interpretation elektronenmikroskopischer Ergebnisse sowie die Nutzung elektronenmikroskopischer Verfahren in eigenen Forschungsarbeiten darstellt. Im Bereich der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), die den Schwerpunkt der Vorlesung bildet, werden neben der Elektronenbeugung vornehmlich die Verfahren der sog. konventionellen TEM behandelt. Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM) sowie die wichtigsten analytische Verfahren (EDX, EELS) werden in einem nachfolgenden zweiten Teil der Vorlesung (EM II) besprochen.
- Empfohlene Literatur
- P.J. Goodhew, J. Humphreys, R. Beanland: Electron Microscopy and Analysis; Taylor & Francis 2001 (3nd edition)
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Plenum Publishing Company, New York, 1996; Vol. 1 - 3 B. J. Fultz, J. M. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer-Verlag 2001 L. Reimer: Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer-Verlag 1997
- ECTS-Informationen:
- Title:
- Electron Microscopy I
- Credits: 3
- Prerequisites
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- Contents
- The lecture gives an introduction into scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM) with the main focus on TEM. The great power of fast electrons for microstructure analysis of materials will be highlighted by discussion of the various techniques that can be combined in SEM and TEM instruments. The interaction of fast electrons with matter and the resulting contrast phenomena in electron microscopy images and diffraction patterns will be discussed in detail with the goal to prepare the attendees for correct interpretation of electron microscopy results and for potential for use of electron microscopy techniques in own research work. In the TEM part the lecture focuses mainly on electron diffraction phenomena and the techniques of "conventional TEM”. High-resultion TEM and analytical techniques (EDX, EELS) will be the topics of a second part of the lecture (EM II).
- Literature
- P.J. Goodhew, J. Humphreys, R. Beanland: Electron Microscopy and Analysis; Taylor & Francis 2001 (3nd edition)
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Plenum Publishing Company, New York, 1996; Vol. 1 - 3 B. J. Fultz, J. M. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer-Verlag 2001 L. Reimer: Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer-Verlag 1997
- Zusätzliche Informationen
- Erwartete Teilnehmerzahl: 16
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2013/2014:
- Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen (MWT-M2/M3-Mik&NanoChar)
- Nanocharakterisierung (M2)
- Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Biomaterialien)
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