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Ausgewählte Kapitel der Elektronenmikroskopie I (Elektronenbeugung) (AusgKapitelEM_I) [Import]
- Dozent/in
- Dr.-Ing. Gerhard Frank
- Angaben
- Vorlesung mit Übung
2 SWS, Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 3, Sprache Deutsch oder Englisch, Wahlveranstaltung
Zeit und Ort: Mi 10:30 - 12:00, 1.225
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF WW-DH 7
WF WW-DH-EL 7
WF WW-MA-MIC 1
WF WW-MA-EL 1
- Voraussetzungen / Organisatorisches
-
- Inhalt
- Der erste Abschnitt der Vorlesung umfaßt - in Verbindung mit Übungen
zur Vertiefung des Stoffes - die Grundlagen und Anwendungen der
Elektronenbeugung. Die folgenden Themen werden behandelt:
grundlegende Aspekte der Elektronenbeugung; reziproke "Stäbe"
(streaks und relrods); Praxis der Auswertung von Beugungsmustern;
Ringmuster; Orientierungsanalyse; Mehrdeutigkeit der Indizierung;
Kikuchi-Linien; Anwendung von konvergenter Elektronenbeugung,
um zwei- und dreidimensionale Informationen zu gewinnen;
"zusätzliche" Beugungspunkte auf Grund von Zweifachbeugung und
Zwillingsgrenzen; Brechung von Elektronenwellen.
Der zweite Abschnitt der Vorlesung ist der stereographischen
Projektion und ihrer Anwendung in der
Durchstrahlungselektronenmikroskopie gewidmet.
- Empfohlene Literatur
- Literatur zu den einzelnen Themen wird in der Vorlesung angegeben.
Als Überblick:
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Vol. 1: Basics, Vol. 2: Diffraction; Plenum Publishing Company, New York, 1996
- ECTS-Informationen:
- Title:
- Selected Topics in Electron Microscopy I
- Credits: 3
- Prerequisites
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- Contents
- The lecture, combined with exercises to consolidate the matter, deals
in its first part with the basis and applications of electron
diffraction.
The following topics are covered: basic aspects of electron
diffraction; streaks and relrods; practice of evaluation of
diffraction patterns;
ring patterns; orientational analysis; ambiguous indexing; Kikuchi
lines; convergent beam electron diffraction to get two and
three dimensional information; "additional" diffraction spots due
to double diffraction and twinning; refraction of electron waves.
The second part of the lecture deals with the stereographic
projection and its applications in transmission
electron microscopy.
- Literature
- Specific literature is given during the lecture.
As an overview:
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Vol. 1: Basics, Vol. 2 : Diffraction; Plenum Publishing Company, New York, 1996
- Zusätzliche Informationen
- Institution: Verbundlabor Hochauflösende Elektronenmikroskopie
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