Physikalisches Wahlfach: Scanning Probe Microscopy (PW)5 ECTS
(englische Bezeichnung: Elective Course in Physics: Scanning Probe Microscopy)
(Prüfungsordnungsmodul: Materials physics elective course)

Lehrveranstaltungen:

• • Scanning Probe Microscopy
    (Vorlesung, Sabine Maier, Mi, 12:00 - 14:00, SR 00.103; Mi; verschiebbar)
  • Scanning Probe Microscopy (excercise class)
    (Übung, Sabine Maier, Mi, 14:00 - 15:00, SR 01.332; verschiebbar)

Inhalt:

Contents:

Introduction in scanning probe microscopy techniques

• Scanning tunneling microscopy (STM)

• Atomic force microscopy (AFM)

• Kelvin probe force microscopy (KPFM)

• Conductive atomic force microscopy (cAFM)

• Scanning Near-field microscopy (SNOM)

Applications

• Atomic manipulation

• Nanoelectronics

• Nanomagnetism and spin-mapping

• Nanomechanics

• Surface reactions
  

Lernziele und Kompetenzen:

Learning goals and competences:
Students

• explain the relevant topics of the lecture

• apply the methods to specific examples

Literatur:

Literature:
General literature on scanning probe microscopy:
1. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
2. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

1. Materials Physics (Master of Science)
   (Po-Vers. 2015s | Master examination | Materials physics elective course)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Physikalisches Wahlfach: Scanning Probe Microscopy (Prüfungsnummer: 719331)

Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

Erstablegung: SS 2015

1. Prüfer:

Sabine Maier