| Algorithmen und Architektur für fehlertolerante optoelektronische 3D-Smart-Pixels-Rechner In diesem Projekts wurde untersucht, in wieweit sich Fehlertoleranzmaßnahmen für rein elektronische Schaltkreise auf den optoelektronischen Ansatz übertragen lassen. Zusätzlich wurden Fehlertoleranzmaßnahmen entwickelt, die die technologischen Eigenschaften der Optoelektronik besser ausnutzen.
Gravierenste Ergebnisse waren, daß allein durch einen Entwurf mit weniger Gattern, ohne eigentliche Fehlertoleranzmaßnahme eine erhebliche Verbesserung der Verfügbarkeit einher ging. Ein weiteres Ergebnis ist, daß das TMR-System zwar das teuerste bezüglich Chipfläche ist, aber auch das beste bezüglich Verfügbarkeit und Latenz der berechneten Operanden.
| Projektleitung:
Prof. a.D. Dr. Dr. h.c. Mario Dal Cin
Beteiligte:
Dr.-Ing. Oliver Tschäche
Stichwörter:
Opto-Elektronik; VHDL; High-Level-Algorithmen; Fehlertoleranz
Laufzeit: 5.1.1995 - 28.2.2000
Förderer:
Deutsche Forschungsgemeinschaft
Mitwirkende Institutionen:
Friedrich Schiller Universität Jena
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