Projekt

Die anhaltende Mikrominiaturisierung heutiger elektronischer Schaltungen und im Speziellen der Transistoren ist der Hauptgrund für deren zunehmende inhärente Unzuverlässigkeit. Die Vision dieses Projekts ist die Erforschung und Entwicklung einer Methodik zur Zuverlässigkeitsanalyse auf Systemebene und zum Entwurf zuverlässiger elektronischer Systeme, die aus unzuverlässigen Komponenten bestehen. Das Projekt fokussiert sich auf die Entwicklung einer Methodik zur kompositionellen Zuverlässigkeitsanalyse, die (a) verschiedene Zuverlässigkeitsanalyseverfahren über die Grenzen verschiedener Abstraktionsebenen hinweg kombiniert und (b) Unsicherheiten im Entwurf, in der Fertigung und in der Umgebung eines Systems berücksichtigt.
Erste Ergebnisse zeigen, dass die Flexibilität und Anwendbarkeit der Methodik über die Grenzen von Abstraktionsebenen hinweg entscheidend ist, um die verschiedenen positiven wie negativen Effekte von zuverlässigkeitssteigernden Maßnahmen effizient zu analysieren. Dadurch wird eine systemweite Kosten-Nutzen-Analyse ermöglicht.
Gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) als Projekt TE 163/16-1 und weiter gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) als GL 819/1-2 und TE 163/16-2.