UnivIS Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg - Semester: SS 2008
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Schwerpunktfächer

Catalysis and Reactors [CatRea]

VORL; 2 SWS; ECTS: 3; Di, 16:15 - 17:45, 1.225
PF MAP-S-AP 2 Wasserscheid, P.
Jess, A.
 

Downstreamprocessing [DownPro]

VORL; 2 SWS; ECTS: 3; Mi, 17:00 - 18:30, 1.225
PF MAP-S-AP 2 Arlt, W.  

Electronic materials [ElecMat]

VORL; 1 SWS; ECTS: 1,5; Einzeltermine am 29.4.2008, 6.5.2008, 3.6.2008, 17.6.2008, 9:15 - 12:45, 1.225
PF MAP-S-NM 2 Forchel, A.  

Immobilisation of cells and characterisation of membranes [Cells_Memb]

VORL; 2 SWS; ECTS: 3; Mo, 17:00 - 18:30, 1.225
PF MAP-S-BMP 2 Buchholz, R.
Freitag, R.
 

Nanotechnology of Disperse Systems [Nano]

VORL; 2 SWS; ECTS: 4,5; Mi, 15:00 - 16:30, KS I; ab 23.4.2008
WPF CBI-DH-EF-PP 6-8
WPF CBI-BAH-EF 6
WPF CBI-MA-EF-PP 2-4
PF MAP-S-NM 2
Taylor, R.N.  

Numerische Methoden in den Werkstoffwissenschaften [NumWW]

V/UE; 2 SWS; ECTS: 3; Mi, 12:30 - 14:00, CIP-Pool; Beginn: 16.04
WPF WW-DH-AWE 7
WF WW-DH 6
WPF WW-MA-AWE 1
PF MAP-S-CMP 2
N.N.  

Numerische Methoden in der Partikeltechnik / Numerical Methods in Particle Technology [NMPT]

VORL; 2 SWS; ECTS: 4,5; Mi, 8:30 - 10:00, MAP PR; ab 23.4.2008; Übung n.V., siehe Aushang am Schwarzen Brett, LFG, Cauerstr. 4
WPF CBI-DH 6-8
WPF CBI-MA 2-4
WPF CE-MA 2-4
WPF INF-DH-SIM 6-8
PF MAP-S-CMP 2
Peukert, W.  

Praktikum 2 [Pra_2]

PR; 4 SWS; Schein; ECTS: 4; Zeit und Raum n.V.
PF MAP-S-BMP 2
PF MAP-S-NM 2
PF MAP-S-CMP 2
PF MAP-S-AP 2
Alle Assistenten  

Processing and Funcionality of Organic Electronic Devices [PFOEDevic]

VORL; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1,5; Fr, 9:15 - 10:00, 1.225
PF MAP-S-NM ab 2 Halik, M.  

Projektarbeit 1 [Pro_1]

PJS; 4 SWS; Schein; ECTS: 4; Zeit und Raum n.V.
PF MAP-S-BMP 2
PF MAP-S-NM 2
PF MAP-S-CMP 2
PF MAP-S-AP 2
Alle Assistenten  

Übung zu Nanotechnology of Disperse Systems [Nano-Ü]

UE; 1 SWS; Fr, 13:00 - 14:30, KS I
WPF CBI-DH-EF-PP 6-8
WPF CBI-BAH-EF 6-8
WPF CBI-MA-EF-PP 2-4
PF MAP-S-NM 2
Peukert, W.
Assistenten
 

Übung zu Numerische Verfahren in der Partikeltechnik [NMPT-Ü]

UE; 1 SWS; Zeit und Raum n.V.
WPF CBI-DH 6-8
WPF CBI-MA 2-4
WPF CE-MA 2-4
WPF INF-DH-SIM 6-8
PF MAP-S-CMP 2
Peukert, W.  

   

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