UnivIS Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg - Semester: SS 2008
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Optical Metrology

Optical Manufacturing Metrology [OMM]

VORL; ECTS: 2,5; Di, 8:30 - 12:00, SR QFM
WPF AOT-GL 2-3 Weckenmann, A.  

Optical Metrology in Biophotonics and Nanobiophotonics [OM/BIO]

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Mi, 8:30 - 12:00, AOT-Kursraum; vom 7.5.2008 bis zum 2.7.2008
  Douplik, A.  

Excercise Optical Metrology in Biophotonic and Nanophotonics [OM/BIO-E]

UE; 2 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Mi, 14:00 - 17:00, AOT-Kursraum; vom 7.5.2008 bis zum 28.5.2008
  Douplik, A.
Zam, A.
 

   

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