Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie2.5 ECTS
(Prüfungsordnungsmodul: Hauptseminare Mikroelektronik)

Lehrveranstaltungen:

• • Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie
    (Seminar, 2 SWS, Christina Grandrath et al., Di, 14:00 - 15:30, 0.111; Vorbesprechung: 17.4.2012, 14:00 - 15:30 Uhr, 0.111)

Empfohlene Voraussetzungen:

Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitektur wünschenswert und von Vorteil

Inhalt:

Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.

Lernziele und Kompetenzen:

Die Studierenden

• sammeln Erfahrung bei der Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen und bei der übersichtlichen Darstellung wissenschaftlicher Inhalte auf Folien

• müssen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl treffen,

• haben die Gelegenheit, komplexe Sachverhalte anschaulich vor Publikum zu präsentieren
  

Literatur:

• Folien der Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und Prozessintegration und Bauelementearchitekturen

• Ausgewählte Literatur der jeweiligen Seminarbetreuer
  

Organisatorisches:

Teilnahme an Vorbesprechung notwendig

Weitere Informationen:

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science): 1-4. Semester
   (Po-Vers. 2010 | Masterprüfung | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik)

Studien-/Prüfungsleistungen: