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Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

 

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten

AWA; 4 SWS; n.V.
  Frey, L.  
 

Architekturen und Systemtechnik für Elektromobilität [EMOB]

VORL; 1,5 SWS; ECTS: 2,5; Di, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Zeit und Raum nach Vereinbarung in Absprache mit Dozenten; Am 30.10. findet die Vorlesung im Seminarsaal 2 am Fraunhofer IISB statt.; Vorbesprechung: 16.10.2012, 12:15 - 13:45 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG3 3-6
WPF ME-BA-MG11 3-6
WPF ME-MA-MG3 1-3
WF EEI-BA ab 5
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-MG11 1-3
März, M.  
 

Übung zu Architekturen und Systemtechnik für Elektromobilität [EMOB Ü]

UE; 0,5 SWS; Übungseinheiten im Umfang von 0,5 SWS finden im Rahmen des Vorlesungstermines statt.; Termine der Übung nach Absprache in der Vorlesung
  März, M.  
 

Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie

SEM; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Di, 14:15 - 15:45, 0.111; Vorbesprechung: 16.10.2012, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111
WPF ME-DH-SEM 5-13
WPF ME-MA 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Grandrath, Ch.  
 

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Mi, 12:30 - 14:00, Raum n.V.; Seminarsaal I (Schottkystr. 10, 1. OG);; Vorbesprechung: 17.10.2012, 12:30 - 14:00 Uhr
  Schmidt, K.
Jank, M.
 
 

Exkursion "Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente"

EX; 1 SWS; Schein; Zeit und Raum n.V.
  Grandrath, Ch.  
 

Forschungspraktikum am LEB

SL; Schein; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
  Dirnecker, T.
Grandrath, Ch.
 
 

Halbleiterbauelemente

VORL; 2 SWS; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Mo, 18:15 - 19:45, H11
PF EEI-BA 3
PF EEI-BA-S 4
PF EEI-BA-S 2
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
Frey, L.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; 2 SWS
PF EEI-BA 3
PF EEI-BA-S 4
PF EEI-BA-S 2
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
Hürner, A.  
     Mo16:15 - 17:45H4  Hürner, A. 
 1. Termin nach Absprache ab Mitte des Semesters
     Mi18:15 - 19:45H8  Hürner, A. 
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; 2 SWS
PF EEI-BA 3
PF EEI-BA-S 4
PF EEI-BA-S 2
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
Hürner, A.  
     Mo14:15 - 15:45H6  Hürner, A. 
     Di16:15 - 17:45HA  Hürner, A. 
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

SEM; ben. Schein; ECTS: 2,5; Fr, 13:00 - 15:00, 0.111; Vorbesprechung: 16.10.2012, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111
  Wunder, B.
Dirnecker, T.
 
 

Kolloquium zur Halbleitertechnologie und Messtechnik

KO; 1 SWS; Mo, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
  Bauer, A.  
 

Leistungshalbleiterbauelemente

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 5; Di, 10:15 - 11:45, 0.111
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
Erlbacher, T.
Frey, L.
 
 

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

UE; 2 SWS; ben. Schein; Mo, 14:15 - 15:45, 0.111; ab 22.10.2012
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
Erlbacher, T.
Frey, L.
 
 

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

VORL; 2 SWS; Do, 12:00 - 13:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-MA ab 1
WF ME-DH ab 7
WF AOT-GL ab 1
Erdmann, A.  
 

Übung zu Optical Lithography

UE; 2 SWS; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Mi, 9:00 - 10:30, AOT-Bibliothek
WF AOT-GL ab 1 Erdmann, A.  
 

Praktikum Halbleiter- und Bauelementemesstechnik

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum findet als Blockpraktikum in den Winterferien statt, vorraussichtlich an 2 aufeinanderfolgenden Wochen zwischen dem 26.02. und 28.03.2013.; Vorbesprechung: 15.10.2012, 14:50 - 15:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-DH-PEEI 5-10
Grandrath, Ch.  
 

Praktikum Mikroelektronik [PrakMikro]

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Vorbesprechung: 17.10.2012, 13:00 - 14:00 Uhr, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6   
     Mi13:00 - 17:00BR 1.161  Scharin, M.
Grandrath, Ch.
 
     Mi13:00 - 17:00n.V.  Frickel, J.
u.a.
 
     Mi13:00 - 17:00EL 4.13  Rascher, J.
u.a.
 
 

Praktikum Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Vorlesung Technologie integrierter Schaltungen vorausgesetzt; Mi, 8:30 - 12:30, BR 1.161; Mi, 8:30 - 10:00, 0.111; Praktikum wird am Mittwoch Vormittag angeboten. Wichtig: Teilnahme an Vorbesprechung am 15.10.2012 um 15:00 Uhr im Hans-Georg-Waeber-Saal! ANMELDUNG über StudON; Vorbesprechung: 15.10.2012, 15:00 - 16:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-DH-PEEI 5-10
WPF EEI-BA-MIK ab 5
WPF EEI-MA-MIK ab 1
WPF EEI-MA-LE ab 1
WPF EEI-BA-LE ab 5
WPF ME-MA-P 1-3
Dirnecker, T.
Assistenten
 
 

Produktion in der Siliciumtechnologie

VORL; 2 SWS; ECTS: 2,5; Di, 16:00 - 17:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG8 3-6
WPF ME-MA-MG8 1-3
Frey, L.
Frick, Th.
 
 

Virtuelle Übung zu Produktion in der Siliciumtechnologie

UE; 1 SWS; Anmeldung über die Internetseite des Lehrstuhls für Elektronische Bauelemente; zur Verbesserung der Prüfungsvorbereitung LEB-Teil
  Assistenten  
 

Reinraumpraktikum [RRPrak]

PR; ECTS: 5; Teilnahme an Vorbereitungstreffen verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten (08:00-12:00 oder 13:00-17:00) werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.
PF NT-BA 5 Grandrath, Ch.
Scharin, M.
 
     Einzeltermin am 18.10.20128:15 - 9:450.111  Grandrath, Ch.
Hürner, A.
Scharin, M.
 
     Do8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00BR 1.161  Grandrath, Ch.
Hürner, A.
Scharin, M.
 
     Do
Do
Einzeltermin am 6.12.2012
8:00 - 9:00
13:00 - 14:00
13:00 - 14:00
0.111
0.111
1.225
  Hürner, A.
Grandrath, Ch.
Scharin, M.
 
     Do9:00 - 13:00, 14:00 - 18:00BR 1.161  Betreuer 
 Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.
 

Seminar über Studentische Arbeiten

SEM; 2 SWS; Fr, 10:30 - 12:15, 0.111, (außer Fr 7.12.2012); bis zum 29.3.2013; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
  Dirnecker, T.
Wunder, B.
 
 

Technik der Halbleiterfertigungsgeräte

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Mi, 15:15 - 17:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Vorbesprechung: 17.10.2012, 15:30 - 16:30 Uhr
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF MB-DH 5-10
WPF ME-DH-VF8 5-7
WPF ME-BA-MG8 3-6
WPF ME-MA-MG8 1-3
WF WW-DH-EL 7-13
Pfitzner, L.
Schmutz, W.
 
 

Technologie integrierter Schaltungen

VORL; 3 SWS; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Mo, 10:15 - 12:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-DH-VF13 5-7
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG12 3-6
WPF ME-MA-MG12 1-3
WPF ME-BA-MG11 3-6
WPF ME-MA-MG11 1-3
WF NT-MA ab 1
Frey, L.  
 

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; Veranstaltung nach Absprache evtl. 14-tägig; Do, 16:15 - 17:45, 0.111, (außer Do 6.12.2012); ab 22.10.2012
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-DH-VF13 5-7
WPF ME-BA-MG12 3-6
WPF ME-MA-MG12 1-3
WPF ME-BA-MG11 3-6
WPF ME-MA-MG11 1-3
WF NT-MA ab 1
Scharin, M.  
 

Virtuelle Vorlesung Halbleiterbauelemente (vhb)

VORL; 4 SWS; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.
u.a.
 
 

Virtuelle Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen (vhb)

VORL; 4 SWS; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.  
 

Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 4; Mi, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, (außer Mi 31.10.2012, Mi 7.11.2012); Einzeltermin am 7.11.2012, 12:15 - 13:45, 0.111; Vorlesung findet am 31.10. im Seminarraum 2 am IISB statt
WPF ME-DH-VF11 5-7
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-MG11 3-6
WPF ME-MA-MG11 1-3
Pichler, P.  
 

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; ben. Schein; Zeit und Ort nach Vereinbarung
WPF ME-DH-VF11 5-7
WPF ME-BA-MG11 3-6
WPF ME-MA-MG11 1-3
Pichler, P.  


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