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Halbleitertechnologie III – Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III - ZUFIS)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits)
Modulverantwortliche/r: Peter Pichler
Lehrende:
Peter Pichler
| Start semester: |
WS 2022/2023 | Duration: |
1 semester | Cycle: |
jährlich (WS) |
| Präsenzzeit: |
30 Std. | Eigenstudium: |
45 Std. | Language: |
Deutsch |
Lectures:
Inhalt:
Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen werden im Rahmen des Moduls relevante Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen diskutiert. Insbesondere werden Ausfälle und Fehlerbilder durch elektrische Überbelastung, Schäden in Dielektrika und Strahlenschäden, sowie Fehler in der Metallisierung, Kontaktierung und Verkapselung behandelt.
Lernziele und Kompetenzen:
- Verstehen
- verstehen statistische Grundlagen von Zuverlässigkeitsbetrachtungen
- Anwenden
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- Analysieren
- ermitteln Gründe warum Bauelemente ausfallen sowie die Relevanz von Zuverlässigkeitsproblemen für den Entwurf
- Evaluieren (Beurteilen)
- sind in der Lage, Einflussfaktoren für die Ausfälle von ICs zu bewerten und Gegenmaßnahmen zu beurteilen
Weitere Informationen:
Keywords: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
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