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  Optical Manufacturing Metrology (OMM) [Import]

Dozent/in
Prof. Dr.-Ing. habil. Tino Hausotte

Angaben
Vorlesung mit Übung
, ECTS-Studium, Sprache Englisch
Zeit und Ort: Di 8:15 - 9:45, SR QFM; Einzeltermin am 19.6.2012 8:15 - 9:45, CCC 2.206
ab 24.4.2012

Studienfächer / Studienrichtungen
WPF IP-BA 5-6 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF AOT-GL ab 2 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF IP-BA-S 5-6 (ECTS-Credits: 2,5)

Voraussetzungen / Organisatorisches
  • Vortragssprache: Englisch
  • Unterlagen zur Lehrveranstaltung werden auf der Lernplattform StudOn (www.studon.uni-erlangen.de) bereitgestellt. Das Passwort wird in der ersten Vorlesung bekannt gegeben.

ECTS-Informationen:
Prerequisites
Language: English

Zusätzliche Informationen
Erwartete Teilnehmerzahl: 20
www: http://www.qfm.uni-erlangen.de/lehre/lehrveranstaltungen.php

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester SS 2012:
Optical Manufacturing Metrology (OMM)

Institution: MAOT - Master Programme in Advanced Optical Technologies (Elitestudiengang)
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